![光電子分光装置(XPS)](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/parts_d/04_T.gif) | ![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/pixel.gif) |
![光電子分光装置(XPS)](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/parts_d/04_photo.jpg) |
X線を材料表面に照射することにより、材料の最表面(深さ1〜10ナノメートル)の化学結合状態についての情報を得ることができる装置です。薄層における化学結合状態の観察ができます。 |
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![光電子分光装置(XPS)の特長](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/Label_tokutyou.gif) |
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![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/point_gray.gif) | 高空間分解能XPS分析(30μm)から広域XPSイメージ(50mm×18mm)まで |
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![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/point_gray.gif) | 磁界・電界インプットレンズによる高感度測定 |
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![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/point_gray.gif) | 高精度の波形分離ソフトウエアによる、容易な化学状態分析 |
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![](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/point_gray.gif) | 全反射XPSによる高感度な表面極微量元素の測定 |
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![光電子分光装置(XPS)の対象物](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/Label_taisyobutu.gif) |
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静電半球形アナライザ | 中心軌道半径100mm |
エネルギー掃引 | 0〜1,500eV |
CAE法 | パスエネルギー
5〜200eV | CRR法 | ?E/E0.15〜0.5% |
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設置場所: バイオナノテクセンター(片柳研究所棟 地下1階分室1) |
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![Adobe Reader ダウンロードページへ](/karl/bionano/bionano2/data/Equipment/_res/getAcrobat.gif) |
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